Messen, Auswerten, Dokumentieren, Daten verwalten: EMI III steuert Hardware und Bildanalyse Ihres Erhitzungsmikroskops und liefert charakteristische Temperaturen normkonform, reproduzierbar und personenunabhängig.
Die Software EMI III ist das Herzstück des Erhitzungsmikroskops von Hesse Instruments. Sie steuert sowohl die Hardware als auch sämtliche Auswertefunktionen: vom Einrichten der Probe über den Messablauf bis zum fertigen Prüfbericht. Der Anwender kann sich damit ganz auf seine Proben, ihre Analyse und Auswertung konzentrieren, statt Geräte zu bedienen.
Während der Prüfkörper im Rohrofen erhitzt wird, analysiert EMI III sein Schattenbild kontinuierlich und berechnet die charakteristischen Temperaturen mit festen Algorithmen nach DIN 51730, ISO 540, CEN/TS 15370 und CEN/TR 15404. So entstehen in kurzer Zeit präzise, reproduzierbare und personenunabhängige Ergebnisse. Aus der quantitativen Bestimmung von Prüfkörperhöhe und -breite erstellt die Software zusätzlich dilatometrische Kurven, aus denen sich Sintern, Blähen oder richtungsabhängiges Schwindungsverhalten ableiten lassen. Das Benetzungsverhalten von Schmelzen auf verschiedenen Substraten wird über Kontaktwinkelmessungen beschrieben.
Die Bedienung orientiert sich am Arbeitsablauf im Labor: Die Software führt Schritt für Schritt durch die Messung, Abfragen sorgen dafür, dass nichts vergessen wird, und Routinebedingungen liegen im Methodenspeicher jederzeit bereit. Die Einarbeitungszeit ist entsprechend kurz. Prüfberichte mit vollständiger Dokumentation der Messbedingungen, Ergebnisse und manueller Eingriffe erfüllen alle gängigen Qualitätsmanagement-Anforderungen.
| Merkmal | EMI III |
|---|---|
| Funktionsumfang | Bedienung und Steuerung aller Funktionen des Erhitzungsmikroskops |
| Implementierte Normen | DIN 51730, ISO 540, CEN/TS 15370, CEN/TR 15404 |
| Charakteristische Temperaturen | Sinter-, Schrumpfungs-, Erweichungs-, Sphärisch-, Halbkugel- und Fließtemperatur |
| Weitere Auswertungen | Dilatometrische Kurven (Höhe, Breite, Fläche, Formfaktor), Kontaktwinkel |
| Auflösung Probentemperatur | 1 K Anzeige, 0,01 K intern |
| Standardmessunsicherheit Temperatur | ≤ 5 K |
| Längenauflösung | < 0,1 µm, relative Auflösung besser als 0,01 % |
| Probenmaterial | Pulverpresslinge, Bohrkerne, aus dem Vollen gesägte Probekörper |
| Probekörper-Form | Zylinder, Würfel oder Kegelstumpf nach Norm |
| Probengröße | Höhe ca. 1–6 mm, Durchmesser bzw. Breite ca. 1–8 mm |
| Substrat (Plättchen) | max. 14 × 16 mm, typisch 10 × 12 mm, Dicke ca. 1 mm |
| Dokumentation | Einseitiges Kurzprotokoll oder individuell zusammengestellter Prüfbericht mit Änderungsverfolgung |
| Datenverwaltung | Archivieren und Wiederherstellen, Auswerten an einem zweiten PC |
| Kompatibilität | EM301 sowie ältere Erhitzungsmikroskope von Hesse Instruments und Leitz / Leica |
Technische Änderungen vorbehalten.
| Merkmal | EMI III |
|---|---|
| Funktionsumfang | Bedienung und Steuerung aller Funktionen des Erhitzungsmikroskops |
| Implementierte Normen | DIN 51730, ISO 540, CEN/TS 15370, CEN/TR 15404 |
| Charakteristische Temperaturen | Sinter-, Schrumpfungs-, Erweichungs-, Sphärisch-, Halbkugel- und Fließtemperatur |
| Weitere Auswertungen | Dilatometrische Kurven (Höhe, Breite, Fläche, Formfaktor), Kontaktwinkel |
| Auflösung Probentemperatur | 1 K Anzeige, 0,01 K intern |
| Standardmessunsicherheit Temperatur | ≤ 5 K |
| Längenauflösung | < 0,1 µm, relative Auflösung besser als 0,01 % |
| Probenmaterial | Pulverpresslinge, Bohrkerne, aus dem Vollen gesägte Probekörper |
| Probekörper-Form | Zylinder, Würfel oder Kegelstumpf nach Norm |
| Probengröße | Höhe ca. 1–6 mm, Durchmesser bzw. Breite ca. 1–8 mm |
| Substrat (Plättchen) | max. 14 × 16 mm, typisch 10 × 12 mm, Dicke ca. 1 mm |
| Dokumentation | Einseitiges Kurzprotokoll oder individuell zusammengestellter Prüfbericht mit Änderungsverfolgung |
| Datenverwaltung | Archivieren und Wiederherstellen, Auswerten an einem zweiten PC |
| Kompatibilität | EM301 sowie ältere Erhitzungsmikroskope von Hesse Instruments und Leitz / Leica |
Technische Änderungen vorbehalten.
EMI III kommt in Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle zum Einsatz – in der Industrie ebenso wie in Instituten und Universitäten. Neben der Untersuchung des Schmelzverhaltens von Aschen wird die Software in der Glas-, Keramik- und Metallindustrie verwendet. Die folgenden Normen zur Untersuchung des Ascheschmelzverhaltens sind in EMI III implementiert:
Für die Ausrichtung von Kamera und Objektiv bietet EMI III Hilfsfunktionen, mit denen sich die Bildeinstellungen für die Analyse optimieren lassen. Ein erfolgreicher Analysetest bestätigt, dass die Einstellung für die automatische Bildanalyse geeignet ist.
Ein standardisiertes einseitiges Kurzprotokoll dient als übersichtlicher Prüfbericht mit allen wichtigen Messbedingungen und Ergebnissen, ergänzt um Silhouettenbilder und Kommentare. Alternativ lässt sich ein ausführlicher Prüfbericht individuell zusammenstellen, mit beliebig vielen Bildern, Diagrammen, Texten und Datentabellen sowie vollständiger Änderungsverfolgung.
Messdaten samt vorhandener Auswertungen lassen sich archivieren und wiederherstellen, auch auf einem zweiten PC. Messen und Auswerten können so an verschiedenen Arbeitsplätzen stattfinden. Anwender mit Administrator-Rechten verwalten Methoden und Benutzer, ändern Programmeinstellungen und fügen das Firmenlogo in die Prüfberichte ein. Für spezielle Anwendungen lassen sich die Parameter der Bildanalyse anpassen: empfindlicher etwa für Kontaktwinkelmessungen, unempfindlicher, um aktuelle Ergebnisse leichter mit älteren Auswertungen aus EMI 2.x vergleichen zu können.
Sobald der Probekörper präpariert und samt Substrat auf dem Probenhalter im Ofen platziert ist, unterstützt EMI III alle weiteren Arbeitsschritte. Die Software folgt dabei dem Arbeitsablauf im Labor.. Jeder Programmbereich entspricht einem Schritt des Prüfprozesses.
Das Erhitzungsmikroskop EM301 von Hesse Instruments ist ein Labormessgerät zur thermo-optischen Untersuchung von Materialien. Durch sein spezielles Design, das berührungslose Messverfahren und die umfangreiche Erhitzungsmikroskop-Software EMI III kann es für vielseitige Aufgabenstellungen und Analysen eingesetzt werden.
Damit Ihr Erhitzungsmikroskop zuverlässig arbeitet, bietet Hesse Instruments Zubehör für Messplatz-Rechner, Kühlung, Schutz vor Umwelteinflüssen und Probenpräparation.
Egal ob Qualitätskontrolle, Prozessoptimierung oder Forschung und Entwicklung, gerne beraten wir Sie persönlich zu Ihrer Anwendung. Starten Sie mit einer kostenlosen Probemessung.
